Correcting impedance measurements for background parasitics to characterize circuit components in cryogenic environments

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Carpenter, Riley J., Anczarski, Jadyn, Rydstrom, Ivar, Simchony, Aviv, Smith, Zoe J., Kurinsky, Noah A., Young, Betty A.
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Instrumentation and Detectors
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2506.12268