Correcting impedance measurements for background parasitics to characterize circuit components in cryogenic environments

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Carpenter, Riley J., Anczarski, Jadyn, Rydstrom, Ivar, Simchony, Aviv, Smith, Zoe J., Kurinsky, Noah A., Young, Betty A.
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
Soggetti:
Accesso online:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!