ESRPCB: an Edge guided Super-Resolution model and Ensemble learning for tiny Printed Circuit Board Defect detection

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	HoangVan, Xiem, Dinh, Dang Bui, Canh, Thanh Nguyen, Nguyen, Van-Truong
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Image and Video Processing
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2506.13476