Accurate Depth-Resolved Temperature Profiling via Thermal-Radiation Spectroscopy: Numerical Methods vs Machine Learning

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Shymkiv, Dmitrii, Wang, Zhongyuan, Thornock, Brigham, Karpf, Aiden, Nunez, Camila, Xiao, Yuzhe
Formato: Preprint
Publicado: 2025
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