Accurate Depth-Resolved Temperature Profiling via Thermal-Radiation Spectroscopy: Numerical Methods vs Machine Learning

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Shymkiv, Dmitrii, Wang, Zhongyuan, Thornock, Brigham, Karpf, Aiden, Nunez, Camila, Xiao, Yuzhe
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Optics
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https://arxiv.org/abs/2506.14554