A new angle on stacking faults: Overcoming the edge-on limit in high-resolution defect analysis

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Karpstein, Nicolas, Müller, Lukas, Bezold, Andreas, Mills, Michael J., Neumeier, Steffen, Spiecker, Erdmann
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Materials Science
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2506.15510