Nanoscale imaging of reduced forward bias at V-defects in green-emitting nitride LEDs

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Fornos, C., Alyabyeva, N., Ho, W. Y., Roubert, C., Tak, T., Speck, J. S., Weisbuch, C., Peretti, J., Rowe, A. C. H.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Applied Physics Materials Science
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