Systematic Biases from ARM-Based Sensitivity and Imaging in Compton Cameras

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Ikeda, Tomonori, Sawano, Tatsuya, Tsuji, Naomi, Mizumura, Yoshitaka
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Instrumentation and Methods for Astrophysics
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2506.18659