Gyhm, J., Kwon, H., & Hwang, M. (2025). Fundamental Scaling Limit in Critical Quantum Metrology.
Style de citation Chicago (17e éd.)Gyhm, Ju-Yeon, Hyukjoon Kwon, et Myung-Joong Hwang. Fundamental Scaling Limit in Critical Quantum Metrology. 2025.
Style de citation MLA (9e éd.)Gyhm, Ju-Yeon, et al. Fundamental Scaling Limit in Critical Quantum Metrology. 2025.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.