Hu, J. (2025). YOLO-FDA: Integrating Hierarchical Attention and Detail Enhancement for Surface Defect Detection.
Style de citation Chicago (17e éd.)Hu, Jiawei. YOLO-FDA: Integrating Hierarchical Attention and Detail Enhancement for Surface Defect Detection. 2025.
Style de citation MLA (9e éd.)Hu, Jiawei. YOLO-FDA: Integrating Hierarchical Attention and Detail Enhancement for Surface Defect Detection. 2025.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.