FastRef:Fast Prototype Refinement for Few-Shot Industrial Anomaly Detection

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Tian, Long, Li, Yufei, Dai, Yuyang, Chen, Wenchao, Liu, Xiyang, Chen, Bo
Formato: Preprint
Publicado: 2025
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Ejemplares similares