Characterization of WSe$_2$ films using reflection Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope and multivariate statistical analyses

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Zhang, Tianbi, Holzer, Jakub, Vystavěl, Tomáš, Kolíbal, Miroslav, de Araújo, Estácio Paiva, Stephens, Chris, Britton, T. Ben
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
Soggetti:
Accesso online:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!