Region-Aware CAM: High-Resolution Weakly-Supervised Defect Segmentation via Salient Region Perception

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Dong, Hang-Cheng, Zou, Lu, Liu, Bingguo, Ye, Dong, Liu, Guodong
Formato: Preprint
Publicado: 2025
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