Using deep learning to characterize single-exposure double-line spectroscopic binaries

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Binnenfeld, Avraham, Lilek, Samuel, Nasser, Rami, Giryes, Raja, Zucker, Shay
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Instrumentation and Methods for Astrophysics Solar and Stellar Astrophysics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2507.12363