A Semi-Supervised Learning Method for the Identification of Bad Exposures in Large Imaging Surveys

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Luo, Yufeng, Myers, Adam D., Drlica-Wagner, Alex, Dematties, Dario, Borchani, Salma, Valdes, Francisco, Dey, Arjun, Schlegel, David, Zhou, Rongpu, Team, DESI Legacy Imaging Surveys
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Instrumentation and Methods for Astrophysics Artificial Intelligence
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https://arxiv.org/abs/2507.12784