A Semi-Supervised Learning Method for the Identification of Bad Exposures in Large Imaging Surveys

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Luo, Yufeng, Myers, Adam D., Drlica-Wagner, Alex, Dematties, Dario, Borchani, Salma, Valdes, Francisco, Dey, Arjun, Schlegel, David, Zhou, Rongpu, Team, DESI Legacy Imaging Surveys
Formato: Preprint
Publicado: 2025
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!