A Comprehensive Survey for Real-World Industrial Defect Detection: Challenges, Approaches, and Prospects

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Cheng, Yuqi, Cao, Yunkang, Yao, Haiming, Luo, Wei, Jiang, Cheng, Zhang, Hui, Shen, Weiming
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2507.13378