A Comprehensive Survey for Real-World Industrial Defect Detection: Challenges, Approaches, and Prospects

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Cheng, Yuqi, Cao, Yunkang, Yao, Haiming, Luo, Wei, Jiang, Cheng, Zhang, Hui, Shen, Weiming
Formato: Preprint
Publicado: 2025
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