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SparseC-AFM: a deep learning method for fast and accurate characterization of MoS$_2$ with C-AFM

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Harris, Levi, Hossain, Md Jayed, Qiu, Mufan, Zhang, Ruichen, Ma, Pingchuan, Chen, Tianlong, Gu, Jiaqi, Tongay, Seth Ariel, Celano, Umberto
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Materials Science
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