Conformal C2ST: Turning weak classifiers into strong two-sample tests

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Bansal, Vansh, Chen, Tianyu, Scott, James G.
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2507.17026