Buchumschlag

Exploring Active Learning for Semiconductor Defect Segmentation

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Cai, Lile, Pahwa, Ramanpreet Singh, Xu, Xun, Wang, Jie, Chang, Richard, Zhang, Lining, Foo, Chuan-Sheng
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition
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