The Effect of Pattern Quality on Measurements of Stress Heterogeneity and Geometrically Necessary Dislocation Density by High-Angular Resolution Electron Backscatter Diffraction
Fuente:
arXiv
Salvato in:
| Autori principali: | , |
|---|---|
| Natura: | Preprint |
| Pubblicazione: |
2025
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| Soggetti: | |
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