Idé, T., & Miyaguchi, K. (2025). Cross-Process Defect Attribution using Potential Loss Analysis.
Style de citation Chicago (17e éd.)Idé, Tsuyoshi, et Kohei Miyaguchi. Cross-Process Defect Attribution Using Potential Loss Analysis. 2025.
Style de citation MLA (9e éd.)Idé, Tsuyoshi, et Kohei Miyaguchi. Cross-Process Defect Attribution Using Potential Loss Analysis. 2025.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.