A Crystallographic Metric for Continuous Quantification of Unit Cell Deformation

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Bernier, Shannon, Bassen, Gregory, Brem, Matthew, Tolj, Davor, Simmons, Quentin, McQueen, Tyrel M.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Materials Science
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https://arxiv.org/abs/2508.01177