Separate-scan atomic force microscope for fast infrared scattering-type scanning near-field optical microscope

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Sakiyama, Yusuke, Pfitzner, Emanuel, Andany, Santiago H., Fantner, Georg E., Heberle, Joachim
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Instrumentation and Detectors
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2508.02877