Gate reflectometry in a minimal Kitaev chain device

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Zhang, Yining, Kulesh, Ivan, Haaf, Sebastiaan L. D. ten, van Loo, Nick, Zatelli, Francesco, Degroote, Tijl, Prosko, Christian G., Goswami, Srijit
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
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