Enregistré dans:
| Auteurs principaux: | Vuijk, Maurits, Zeininger, Johannes, Sandoval, Luis, Rupprechter, Günther, Cuenya, Beatriz Roldan, Reuter, Karsten, Lunkenbein, Thomas, Scheurer, Christoph |
|---|---|
| Format: | Preprint |
| Publié: |
2025
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | https://arxiv.org/abs/2508.06523 |
| Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires
Multiscale Microscopy via Automation: Dual Magnification Environmental Scanning Electron Microscopy Imaging by Frame Alternation
par: Maurits Vuijk, et autres
Publié: (2026)
par: Maurits Vuijk, et autres
Publié: (2026)
Advanced Techniques in Automated High Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy
par: Pattison, Alexander, et autres
Publié: (2023)
par: Pattison, Alexander, et autres
Publié: (2023)
Improving the temporal resolution of event-based electron detectors using neural network cluster analysis
par: Schröder, Alexander, et autres
Publié: (2023)
par: Schröder, Alexander, et autres
Publié: (2023)
Comparison of Impedance Matching Networks for Scanning Microwave Microscopy
par: Hoffmann, Johannes, et autres
Publié: (2024)
par: Hoffmann, Johannes, et autres
Publié: (2024)
BEACON -- Automated Aberration Correction for Scanning Transmission Electron Microscopy using Bayesian Optimization
par: Pattison, Alexander J., et autres
Publié: (2024)
par: Pattison, Alexander J., et autres
Publié: (2024)
Asymmetric Electrostatic Dodecapole: Compact Bandpass Filter with Low Aberrations for Momentum Microscopy
par: Tkach, O., et autres
Publié: (2023)
par: Tkach, O., et autres
Publié: (2023)
afspm: A Framework for Manufacturer-Agnostic Automation in Scanning Probe Microscopy
par: Sullivan, Nicholas J., et autres
Publié: (2025)
par: Sullivan, Nicholas J., et autres
Publié: (2025)
Scanning Tunneling Microscopy in high vectorial magnetic fields
par: Ozores, Jaime Rumeu, et autres
Publié: (2026)
par: Ozores, Jaime Rumeu, et autres
Publié: (2026)
X-ray Microscopy and Talbot Imaging with the Matter in Extreme Conditions X-ray Imager at LCLS
par: Galtier, Eric, et autres
Publié: (2024)
par: Galtier, Eric, et autres
Publié: (2024)
Semi-analytical modeling of receive transfer function and thermal noise of integrated photonic ultrasound transducers
par: Valappil, Sabiju Valiya, et autres
Publié: (2025)
par: Valappil, Sabiju Valiya, et autres
Publié: (2025)
True Alternating Current Scanning Tunneling Microscope (ACSTM): tunneling on insulators
par: Rost, M. J.
Publié: (2026)
par: Rost, M. J.
Publié: (2026)
High-throughput Parasitic-independent Probe Thermal Resistance Calibration for Robust Thermal Mapping with Scanning Thermal Microscopy
par: Munde, Ram, et autres
Publié: (2025)
par: Munde, Ram, et autres
Publié: (2025)
Full-Field Brillouin Microscopy with a Scanning Fabry-Perot Interferometer
par: Pochylski, Mikolaj
Publié: (2025)
par: Pochylski, Mikolaj
Publié: (2025)
Measurement of the Resolution of the Timepix4 Detector for 100 keV and 200 keV Electrons for Transmission Electron Microscopy
par: Dimova, N., et autres
Publié: (2024)
par: Dimova, N., et autres
Publié: (2024)
Directional Dark Field for Nanoscale Full-Field Transmission X-Ray Microscopy
par: Wirtensohn, Sami, et autres
Publié: (2025)
par: Wirtensohn, Sami, et autres
Publié: (2025)
Laboratory-Based Correlative Soft X-ray and Fluorescence Microscopy in an Integrated Setup
par: Reinhard, Julius, et autres
Publié: (2023)
par: Reinhard, Julius, et autres
Publié: (2023)
Nanoscale Dark-Field Imaging in Full-Field Transmission X-Ray Microscopy
par: Wirtensohn, Sami, et autres
Publié: (2024)
par: Wirtensohn, Sami, et autres
Publié: (2024)
Frequency planning for LISA
par: Heinzel, Gerhard, et autres
Publié: (2024)
par: Heinzel, Gerhard, et autres
Publié: (2024)
High Dynamic Range Scanning Tunneling Microscopy
par: Karić, Ajla, et autres
Publié: (2024)
par: Karić, Ajla, et autres
Publié: (2024)
Reduced Thermodynamic-Topological Observables for Multiscale Dissipative Systems. A fusion-relevant shell-model study of detection, design screening, and conservative operation
par: Caffagni, Andrea
Publié: (2026)
par: Caffagni, Andrea
Publié: (2026)
GEO600 beam splitter thermal compensation system: new design and commissioning
par: Nadji, Séverin, et autres
Publié: (2024)
par: Nadji, Séverin, et autres
Publié: (2024)
Sum-Frequency Generation Spectro-Microscopy in the Reststrahlen Band of Wurtzite-type Aluminum Nitride
par: Mader, Dorothée S., et autres
Publié: (2024)
par: Mader, Dorothée S., et autres
Publié: (2024)
Quantifying Resolution in Pink Beam Dark Field X-ray Microscopy: Experiments and Simulations
par: La Bella, Michela, et autres
Publié: (2025)
par: La Bella, Michela, et autres
Publié: (2025)
Scanning Transmission Electron Microscopy of Oxide Interfaces and Heterostructures
par: Spurgeon, Steven R.
Publié: (2020)
par: Spurgeon, Steven R.
Publié: (2020)
Single-pulse Stimulated Raman Photothermal Microscopy and Direct Visualization of Cholesterol-rich Membrane Domains
par: Zhu, Yifan, et autres
Publié: (2026)
par: Zhu, Yifan, et autres
Publié: (2026)
Dual-readout calorimetry with homogeneous crystals
par: Hirosky, R., et autres
Publié: (2024)
par: Hirosky, R., et autres
Publié: (2024)
A 28nm Multiply-Accumulate ASIC Architecture for On-Chip Data Compression in MHz Frame Rate X-ray and Electron Pixel Detectors
par: Rasheedi, Rami, et autres
Publié: (2025)
par: Rasheedi, Rami, et autres
Publié: (2025)
Timing performance of a digital SiPM prototype measured with a picosecond injection laser
par: Rastorguev, Daniil, et autres
Publié: (2025)
par: Rastorguev, Daniil, et autres
Publié: (2025)
Coplanar waveguide ground potentials imbalance as a source of useful signal in Near-Field Scanning Microwave Microscopy
par: Gladilovich, P. A., et autres
Publié: (2024)
par: Gladilovich, P. A., et autres
Publié: (2024)
Open Gas-Cell Transmission Electron Microscopy at 50 pm Resolution
par: Biran, Idan, et autres
Publié: (2025)
par: Biran, Idan, et autres
Publié: (2025)
Scanning Acoustic Microscopy for Quantifying Bubble Evolution in Alkaline Water Electrolyzers
par: Dou, Zehua, et autres
Publié: (2024)
par: Dou, Zehua, et autres
Publié: (2024)
Scalable Relay Switching Platform for Automated Multi-Point Resistance Measurements
par: Boretti, Edoardo, et autres
Publié: (2025)
par: Boretti, Edoardo, et autres
Publié: (2025)
Automated split Hopkinson pressure bar for high throughput dynamic experiments
par: Ramakumaresan, Mouliswar, et autres
Publié: (2025)
par: Ramakumaresan, Mouliswar, et autres
Publié: (2025)
Physics Performance and Detector Requirements at an Asymmetric Higgs Factory
par: Laudrain, Antoine, et autres
Publié: (2024)
par: Laudrain, Antoine, et autres
Publié: (2024)
The DESY Digital Silicon Photomultiplier: Device Characteristics and First Test-Beam Results
par: Feindt, Finn, et autres
Publié: (2024)
par: Feindt, Finn, et autres
Publié: (2024)
4D-Tracking with Digital SiPMs
par: Diehl, Inge, et autres
Publié: (2024)
par: Diehl, Inge, et autres
Publié: (2024)
High-granularity Dual-readout Calorimeter: Evolution of a Classic Prototype
par: Akchurin, N., et autres
Publié: (2024)
par: Akchurin, N., et autres
Publié: (2024)
A Semiempirical Transparency Model for Dual Energy Cargo Radiography Applications
par: Lalor, Peter, et autres
Publié: (2023)
par: Lalor, Peter, et autres
Publié: (2023)
Noise2Void for Denoising Atomic Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy Images
par: Thornley, William, et autres
Publié: (2026)
par: Thornley, William, et autres
Publié: (2026)
Deep Learning Enabled Nanoscale X-ray Photoemission Electron Microscopy (nanoXPEEM)
par: Mishra, Aashwin, et autres
Publié: (2025)
par: Mishra, Aashwin, et autres
Publié: (2025)
Documents similaires
-
Multiscale Microscopy via Automation: Dual Magnification Environmental Scanning Electron Microscopy Imaging by Frame Alternation
par: Maurits Vuijk, et autres
Publié: (2026) -
Advanced Techniques in Automated High Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy
par: Pattison, Alexander, et autres
Publié: (2023) -
Improving the temporal resolution of event-based electron detectors using neural network cluster analysis
par: Schröder, Alexander, et autres
Publié: (2023) -
Comparison of Impedance Matching Networks for Scanning Microwave Microscopy
par: Hoffmann, Johannes, et autres
Publié: (2024) -
BEACON -- Automated Aberration Correction for Scanning Transmission Electron Microscopy using Bayesian Optimization
par: Pattison, Alexander J., et autres
Publié: (2024)