Impact of Ge substrate Thicknesses and Epitaxy Growth Conditions on the Optical and Material Properties of Ge- and GaAs-based VCSELs

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Dong, Wenhan, Wan, Zeyu, Yang, Yun-Cheng, Wu, Chao-Hsin, Zhang, Yiwen, Wen, Rui-Tao, Xia, Guangrui
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Materials Science Applied Physics
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https://arxiv.org/abs/2508.06777