SWiFT: Soft-Mask Weight Fine-tuning for Bias Mitigation

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Yan, Junyu, Chen, Feng, Xue, Yuyang, Du, Yuning, Vilouras, Konstantinos, Tsaftaris, Sotirios A., McDonagh, Steven
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Machine Learning Computer Vision and Pattern Recognition
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https://arxiv.org/abs/2508.18826