Exploring nanoscale metallic multilayer Ta/Cu films: Structure and some insights on deformation and strengthening mechanisms

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Karpinski, Daniel, Polcar, Tomas, Bondarev, Andrey
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2508.18928