AM-DefectNet: Additive Manufacturing Defect Classification Using Machine Learning -- A comparative Study

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ilani, Mohsen Asghari, Banad, Yaser Mike
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Mesoscale and Nanoscale Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2509.01769