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AM-DefectNet: Additive Manufacturing Defect Classification Using Machine Learning -- A comparative Study

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Ilani, Mohsen Asghari, Banad, Yaser Mike
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Mesoscale and Nanoscale Physics
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