Optical characterization of deep level defects in n-type Al$_x$In$_y$Ga$_{1-x-y}$P for development of solid-state photomultiplier analogs

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Armstrong, Andrew M., Anderson, Evan M., Caravello, Lisa N., Garcia, Eduardo, Klesko, Joseph P., Hawkins, Samuel D., Shaner, Eric A., Klem, John F., Muhowski, Aaron J.
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Applied Physics
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2509.02880