Resilient Multimodal Industrial Surface Defect Detection with Uncertain Sensors Availability

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Jiang, Shuai, Ma, Yunfeng, Zhou, Jingyu, Bian, Yuan, Wang, Yaonan, Liu, Min
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition
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https://arxiv.org/abs/2509.02962