Dual-Mode Deep Anomaly Detection for Medical Manufacturing: Structural Similarity and Feature Distance

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Diaz, Julio Zanon, Siogkas, Georgios, Corcoran, Peter
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2509.05796