Superellipsoid modeling of wire-laser additive manufacturing defects measured by digital image correlation

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Hachem, Khalil, Quinsat, Yann, Tournier, Christophe, Beraud, Nicolas
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Classical Physics
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2509.17545