Nanoscale Strain Evolution and Grain Boundary-Mediated Defect Sink Behavior in Irradiated SiC: Insights from N-PED and DFT

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Daghbouj, Nabil, AlMotasem, Ahmed. T., Duchoňb, Jan., Li, Bingsheng., Bensalem, Mohamed., Munnik, Frans., Ou, Xin, Macková, Anna., Weber, William. J., Polcara, Tomas.
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
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