Nanoscale Strain Evolution and Grain Boundary-Mediated Defect Sink Behavior in Irradiated SiC: Insights from N-PED and DFT

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Daghbouj, Nabil, AlMotasem, Ahmed. T., Duchoňb, Jan., Li, Bingsheng., Bensalem, Mohamed., Munnik, Frans., Ou, Xin, Macková, Anna., Weber, William. J., Polcara, Tomas.
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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