Are Foundation Models Ready for Industrial Defect Recognition? A Reality Check on Real-World Data

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Baeuerle, Simon, Khanna, Pratik, Friederich, Nils, Sitcheu, Angelo Jovin Yamachui, Shakirov, Damir, Steimer, Andreas, Mikut, Ralf
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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