DepthLM: Metric Depth From Vision Language Models

Fuente: arXiv

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Cai, Zhipeng, Yeh, Ching-Feng, Xu, Hu, Liu, Zhuang, Meyer, Gregory, Lei, Xinjie, Zhao, Changsheng, Li, Shang-Wen, Chandra, Vikas, Shi, Yangyang
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2509.25413