Electropolishing-Induced Topographic Defects in Niobium: Insights and Implications for Superconducting Radio Frequency Applications

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Hryhorenko, Oleksandr, Valente-Feliciano, Anne-Marie, Lechner, Eric M.
Format: Preprint
Publié: 2025
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