YOLO-Based Defect Detection for Metal Sheets

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Chou, Po-Heng, Wang, Chun-Chi, Mao, Wei-Lung
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Machine Learning Image and Video Processing Signal Processing 68T45, 68T07 I.2.10; I.4.7; I.5.4
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https://arxiv.org/abs/2509.25659