YOLO-Based Defect Detection for Metal Sheets

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Chou, Po-Heng, Wang, Chun-Chi, Mao, Wei-Lung
Formato: Preprint
Publicado: 2025
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Ejemplares similares