When Higher Resolution Reduces Precision: Quantum Limits of Off-Axis Interferometric Scattering Microscopy

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Hitzelhammer, Felix, Dong, Jonathan, Hohenester, Ulrich, Juffmann, Thomas
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
Schlagworte:
Online-Zugang:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!