On the Empirical Power of Goodness-of-Fit Tests in Watermark Detection

Fuente: arXiv

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	He, Weiqing, Li, Xiang, Shang, Tianqi, Shen, Li, Su, Weijie, Long, Qi
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2510.03944