On the Empirical Power of Goodness-of-Fit Tests in Watermark Detection

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	He, Weiqing, Li, Xiang, Shang, Tianqi, Shen, Li, Su, Weijie, Long, Qi
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Machine Learning
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2510.03944