Attention-Enhanced Prototypical Learning for Few-Shot Infrastructure Defect Segmentation

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Thrainer, Christina, Ferdaus, Md Meftahul, Abdelguerfi, Mahdi, Guetl, Christian, Sloan, Steven, Niles, Kendall N., Pathak, Ken
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2510.05266