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Atomically resolved electron reflectivity at a metal/semiconductor interface

Fuente: arXiv

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Hauptverfasser:	Huang, Ding-Ming, Wang, Jian-Huan, Zhang, Jie-Yin, Yao, Yuan, Xu, H. Q., Zhang, Jian-Jun
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Mesoscale and Nanoscale Physics Materials Science
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