Electron Lateral Trapping Induced by Non-Uniform Thickness in Solid Neon Layers

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Kanai, Toshiaki, Zhang, Chuanwei
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
Soggetti:
Accesso online:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!