Buchumschlag

A Large-Language-Model Assisted Automated Scale Bar Detection and Extraction Framework for Scanning Electron Microscopic Images

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Chen, Yuxuan, Yang, Ruotong, Zhang, Zhengyang, Ahmed, Mehreen, Wang, Yanming
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
Schlagworte:
Computer Vision and Pattern Recognition
Materials Science
Artificial Intelligence
Data Analysis, Statistics and Probability
Online-Zugang:
Acceder al recurso
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Keine Beschreibung verfügbar.

Ähnliche Einträge