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A Large-Language-Model Assisted Automated Scale Bar Detection and Extraction Framework for Scanning Electron Microscopic Images

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Chen, Yuxuan, Yang, Ruotong, Zhang, Zhengyang, Ahmed, Mehreen, Wang, Yanming
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Materials Science Artificial Intelligence Data Analysis, Statistics and Probability
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