Fault Cause Identification across Manufacturing Lines through Ontology-Guided and Process-Aware FMEA Graph Learning with LLMs

Fuente: arXiv
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Autori principali: Okazaki, Sho, Kaminishi, Kohei, Fujiu, Takuma, Wang, Yusheng, Ota, Jun
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
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