Fault Cause Identification across Manufacturing Lines through Ontology-Guided and Process-Aware FMEA Graph Learning with LLMs

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Okazaki, Sho, Kaminishi, Kohei, Fujiu, Takuma, Wang, Yusheng, Ota, Jun
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
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